中国电子科技集团公司第二十三研究所检验中心

检测项：*功率和等电平远端串扰 检测样品：光纤 标准：光纤试验方法规范第20部分：尺寸参数的试验方法和试验程序——光纤几何参数GB/T15972.20-2008 光纤第1-20部分：试验方法和试验程序—光纤几何参数IEC60793-1-20:2001

检测项：*等电平远端串扰 检测样品：光纤 标准：光纤试验方法规范第20部分：尺寸参数的试验方法和试验程序——光纤几何参数GB/T15972.20-2008 光纤第1-20部分：试验方法和试验程序—光纤几何参数IEC60793-1-20:2001

检测项：*同轴电缆间的串音试验 检测样品：射频电缆 标准：同轴通信电缆 第1-122部分：电气试验方法 同轴电缆间的串音试验 IEC 61196-1-122:2006

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

富士康（昆山）电脑接插件有限公司实验室

检测项：串音 检测样品：电子及电气零组件 标准：电子及电气零组件的串音测试 ECA EIA-364-90-2000(R2007)

检测项：特性阻抗 检测样品：电子及电气零组件 标准：电子及电气零组件的反射系数,驻波抑制比, 反射损耗,特性阻抗 ECA EIA-364-108-2000(R2007)

检测项：时间量测 检测样品：电子及电气零组件 标准：电子及电气零组件的上升时间,时间差量测 ECA EIA-364-102-1998(R2012) ECA EIA-364-103-1998(R2012)

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

北京东方计量测试研究所

检测项：上升时间 检测样品：数字示波器 标准：GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法

检测项：上升时间 检测样品：数字示波器 标准：GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法

检测项：上升时间 检测样品：数字示波器 标准：GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：偏转因数 及误差 检测样品：数字示波器 标准：GB/T 15289-94 数字存储示波器通用技术条件和测试方法

检测项：偏转因数 及误差 检测样品：数字示波器 标准：GB/T 15289-94 《 数字存储示波器通用技术条件和测试方法 》

检测项：偏转系数 及误差 检测样品：模拟示波器 标准：GB/T 6585-1996 阴极射线示波器通用规范

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第七研究所凯尔实验室

检测项：等效远端串音衰减功率和 检测样品：射频同轴电缆 标准：YD/T 1092-2004 通信电缆-- 无线通信用50欧泡沫聚乙烯绝缘皱纹铜管外导体射频同轴电缆 GB /T 17737.1-2000射频电缆 第1部分:总规范——总则、定义、要求和试验方法

检测项：等效远端串音衰减 检测样品：射频同轴电缆 标准：YD/T 1092-2004 通信电缆-- 无线通信用50欧泡沫聚乙烯绝缘皱纹铜管外导体射频同轴电缆 GB /T 17737.1-2000射频电缆 第1部分:总规范——总则、定义、要求和试验方法

检测项：多通道放大器的串音衰减和分离度 检测样品：声频放大器 标准：SJ/T 10406-93声频功率放大器通用技术条件 GB/T 12060.3-2011 声系统设备 第3部分：声频放大器测量 GB/T 9384-2011 广播收音机、广播电视接收机、磁带录音机、声频功率放大器（扩音机）的环境试验要求和试验方法

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：静态功率Ps 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：静态功率Ps 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：1dB压缩点输入功率电平、1dB压缩点输出功率电平 检测样品：场效应晶体管 标准：1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分：场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

北京通和实益电信科学技术研究所有限公司威尔克通信实验室

检测项：全部项目 检测样品：有线接入设备(含XDSL设备) 标准：YD/T 1996.4-2011接入网技术要求 第二代甚高速数字用户线（VDSL2）第4部分：远端自串音消除

检测项：全部项目 检测样品：调制解调器 标准：YD/T1172-2001 接入网远端设备U接口技术要求

检测项：全部项目 检测样品：光端机 标准：YD/T 1172-2001《接入网技术要求--接入网远端设备ISDN基本速率接入接口（U接口）技术要求》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海飞机制造有限公司计量测试中心

检测项：导电性 检测样品：润滑脂 标准：航空燃料与馏分燃料电导率测定法 GB/T 6539-1997 航空燃料和馏分燃料电导率标准试验方法 ASTM D 2624-09

检测项：形状和位置公差 检测样品：产品几何量 标准：产品几何量技术规范（GPS） 形状和位置公差检测规定 GB/T 1958-2004

检测项：开口闪点 检测样品：钛合金 标准：GB/T3536-2008 石油产品闪点和燃点的测定 克利夫兰开口杯法 ASTM D92-2011克利夫兰开口杯测试闪点和燃点的试验方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国乐凯集团有限公司分析测试中心

检测项：全部参数 检测样品：阴图型PS版 标准：阴图型PS版 HG/T 2171-2007

机构所在地：河北省保定市 更多相关信息>>